虽然冠脉支架的发展大大地改善了冠心病的死亡率，但支架内血栓仍然影响着 PCI 术后的患者，甚至心梗和死亡率可达 80%。早期支架内血栓形成主要是支架类型或边缘夹层和支架膨胀不全，但药物涂层支架（DES）植入 1 年后发生的极晚期支架内血栓形成（VLST）的具体机制仍未明确。
为此，来自瑞士的 Masanori 博士及其同事借助光学相干断层扫描技术（OCT）对 VLST 的具体机制展开研究，全文于近期发表在 Circulation 杂志上。
研究调查了 2010 年 8 月至 2014 年 12 月期间 64 例 VLST 患者，他们都在血流恢复后接受了 OCT 检查，并以 0.4 mm 进行分析。最后共有 38 例老式药物涂层支架和 20 例新型药物涂层支架可用于分析。VLST 的发生时间平均为 4.7 年。OCT 可以发现 98% 的患者有潜在的原因，其中最常见的是支架贴壁不良（34.5%）、新生粥样硬化（27.6%）、未覆盖支架（12.1%）和支架膨胀不良（6.9%）。
未充分覆盖和贴壁不良的区域更容易发生血栓形成，反之亦然，形成血栓的区域所测得未充分覆盖和贴壁不良的最大长度也比未形成血栓的大，支架小梁内表面与血管壁之间的最大或平均轴向距离未见明显差异。未充分覆盖和贴壁不良与血栓形成的关系在老式和新型药物涂层支架中未见明显差异。
总之，与 VLST 患者主要相关的发现依次为贴壁不良、新生粥样硬化、未覆盖支架和支架膨胀不良，且发现这些因素与药物涂层支架是老式还是新型无关。另外，纵向扩展的贴壁不良和未覆盖的支架与 VLST 血栓形成紧密相关。
